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電子測(cè)試儀器

聲學(xué)成像儀 B-H分析儀半導(dǎo)體參數(shù)分析儀相序測(cè)試儀光伏測(cè)試儀電流鉗/交直流電流鉗鉗形表阻抗分析儀電子負(fù)載數(shù)據(jù)記錄儀紅外熱像儀頻譜分析儀邏輯分析儀/總線協(xié)儀測(cè)試儀泄漏電流測(cè)試儀轉(zhuǎn)速表數(shù)字存儲(chǔ)示波器固緯直流穩(wěn)壓電源耐壓絕緣測(cè)試儀功率分析儀/功率計(jì) 電能質(zhì)量分析儀接地電阻測(cè)試儀絕緣電阻計(jì)/兆歐表微電阻計(jì) 電池測(cè)試儀數(shù)字示波器穩(wěn)壓電源安規(guī)測(cè)試儀 LCR測(cè)試儀數(shù)字多用表

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IR4017指針絕緣電阻測(cè)試儀IR4017價(jià)格

指針絕緣電阻測(cè)試儀IR4017單量程，測(cè)試電壓500 V, 絕緣電阻測(cè)試zui高 1000 MΩ。能經(jīng)受混凝土地面1米高的跌落，超亮的LED照明刻度盤。小巧緊湊設(shè)計(jì)，可翻轉(zhuǎn)盒蓋，測(cè)試探頭配備智能LED,可在暗處操作。

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更新日期
2024-07-01

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IR3455-30高壓絕緣電阻測(cè)試儀 IR3455-30報(bào)價(jià)

高壓絕緣電阻測(cè)試儀 IR3455-30試驗(yàn)電壓250V-5000V，發(fā)生范圍較廣。而且，可以設(shè)置以25V步進(jìn)為單位進(jìn)行微調(diào)。較適用于高電壓設(shè)備的變壓器，電纜，馬達(dá)等絕緣電阻試。絕緣電阻測(cè)量范圍擴(kuò)大至大10TΩ。此外大PI（成極指數(shù)），DAR（誘電吸收比）的自動(dòng)計(jì)算/顯示和測(cè)量步進(jìn)電壓，溫度補(bǔ)償，溫度測(cè)量，泄露電流顯示等絕緣診斷所必須的功能也。

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更新日期
2024-07-01

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LAP-Educator邏輯分析儀LAP-Educator價(jià)格

邏輯分析儀LAP-Educator觸發(fā)通道：8CH,每通道記憶體深度：32Kbits,內(nèi)部取樣頻率：100Hz～100MHz,外部取樣頻率：75MHz,PC-Based介面,採(cǎi)USB1.1（2.0）傳輸供電.

01
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2024-07-01

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LAP-F1-40邏輯分析儀LAP-F1-40價(jià)格

邏輯分析儀LAP-F1-40大狀態(tài)（同步）取樣頻率：200 MHz （Dual-edge），大時(shí)序（非同步）取樣頻率：1G Hz 觸發(fā)通道：40 ch ，6項(xiàng)硬體觸發(fā)：I2C, UART（RS-232C/422/485）, SPI, CAN 2.0B, SVID, I2S，免費(fèi)支援超過110種總線協(xié)議分析。

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更新日期
2024-07-01

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LAP-F1-64邏輯分析儀LAP-F1-64報(bào)價(jià)

邏輯分析儀LAP-F1-64大狀態(tài)（同步）取樣頻率：200 MHz （Dual-edge）,大時(shí)序（非同步）取樣頻率：1G Hz 觸發(fā)通道：64 ch ,6項(xiàng)硬體觸發(fā)：I2C, UART（RS-232C/422/485）, SPI, CAN 2.0B, SVID, I2S, 免費(fèi)支援超過110種總線協(xié)議分析.

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2024-07-01

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