吉時利 4200A-SCS 半導體參數分析儀作為集成式半導體特性分析系統，它可同步實現直流 I-V、C-V、超快脈沖 I-V 的高精度測量，配備的 Clarius 軟件內置數百種應用測試模板，支持模塊化定制升級，可擴展SMU、CVU、PMU等全品類模塊，適配從 MOSFET、非易失性存儲器到納米器件、光伏器件的全場景測試需求。

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廠商性質：代理商
更新時間：2026-04-02
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吉時利 4200A-SCS 半導體參數分析儀介紹

泰克旗下 Keithley 吉時利 4200A-SCS 參數分析儀，作為集成式半導體特性分析系統，它可同步實現直流 I-V、C-V、超快脈沖 I-V 的高精度測量，配備的 Clarius 軟件內置數百種應用測試模板，支持模塊化定制升級，可擴展SMU、CVU、PMU等全品類模塊，適配從 MOSFET、非易失性存儲器到納米器件、光伏器件的全場景測試需求。其核心 SMU 模塊可實現 100fA 的基礎測量分辨率，選配前端放大器后更可達到 10aA 的靈敏度，長期以來是國內高校實驗室、頭部晶圓廠研發線的 “標配" 設備。

I-V 源測量單元(SMU)
± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模塊
100 fA測量分辨率
選配前端放大器提供了 10 aA測量分辨率
10 mHz - 10 Hz 超低頻率電容測量
100 μF負載電容
四象限操作
2 線或 4 線連接
C-V 多頻率電容單元(CVU)
AC 阻抗測量 (C-V, C-f, C-t)
1 kHz - 10 MHz 頻率范圍
± 30 V (60 V差分)內置DC偏置源，可以擴展到± 210 V(420 V 差分)
選配 CVIV 多通道開關，在 I-V 測量和 C-V 測量之間簡便切換脈沖式I-V 超快速脈沖測量單元(PMU)
兩個獨立的或同步的高速脈沖 I-V 源和測量通道
200 MSa/s，5 ns 采樣率
±40 V (80 V p-p)，±800 mA
瞬態波形捕獲模式
任意波形發生器 Segment ARB® 模式，支持多電平脈沖波形，10 ns 可編程分辨率
高壓脈沖發生器單元(PGU)
兩個高速脈沖電壓源通道
±40 V (80 V p-p)，± 800 mA
任意波形發生器 Segment ARB®模式，支持多電平脈沖波形，10 ns 可編程分辨率I-V/C-V 多通道開關模塊 (CVIV)
在 I-V測量和 C-V 測量之間簡便切換，無需重新布線或抬起探針
把 C-V測量移動到任意端子，無需重新布線或抬起探針遠程前端放大器/ 開關模塊(RPM)
在 I-V 測量、C-V 測量和超快速脈沖 I-V 測量之間自動切換
把 4225-PMU的電流靈敏度擴展到數十皮安
降低電纜電容效應

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